臺式電鏡SEM(Scanning Electron Microscope)是一種能夠觀(guān)察材料表面微觀(guān)形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過(guò)掃描樣品表面并利用反射出的電子來(lái)獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。
 

　　臺式電鏡SEM主要有以下作用：
 

　　1.觀(guān)察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀(guān)察到微觀(guān)級別的表面結構和形貌，為材料表面結構分析提供依據。
 

　　2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生成元素分布圖像。這種方法可以用于材料表面的元素成分分析、微區元素分布分析等。
 

　　3.研究材料性質(zhì)：還能夠結合其他技術(shù)手段，如電子探針、能譜分析等技術(shù)，進(jìn)行材料物理性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)等方面的研究。通過(guò)對材料性質(zhì)的深入研究，有助于理解材料的本質(zhì)和性質(zhì)，為材料設計和改進(jìn)提供依據。
 

　　4.應用于生物醫學(xué)：廣泛應用于生物醫學(xué)領(lǐng)域，例如細胞表面形態(tài)、細胞器的結構等方面的研究。通過(guò)觀(guān)察生物體內微觀(guān)結構的形態(tài)，能夠加深人們對生物學(xué)的認識，為藥物研發(fā)和治療疾病提供依據。
 

　　臺式電鏡SEM還可以進(jìn)行能譜分析，通過(guò)測量樣品表面的X射線(xiàn)能譜和退火電子能譜等，分析樣品表面的元素成分分布情況。能譜分析還可以用于區分不同的化學(xué)結構和化學(xué)狀態(tài)，為材料的化學(xué)成分分析提供依據。收集二次電子信號：SEM收集反射回來(lái)的二次電子信號來(lái)生成圖像。這些二次電子具有和樣品表面形貌和拓撲形態(tài)有關(guān)的信息，收集和分析這些信號可以獲得樣品表面的形貌信息。