高溫環(huán)境XRD是進(jìn)行X射線(xiàn)分析的重要設備，主要由X射線(xiàn)發(fā)生器、測角儀(測量角度2θ的裝置)、記錄儀(測量X射線(xiàn)強度的計數裝置)和水冷卻系統組成。新型的衍射儀還帶有條件輸入和數據處理系統。主要由高壓控制系統和X光管組成，它是產(chǎn)生X射線(xiàn)的裝置(產(chǎn)生X射線(xiàn)的裝置)，由X光管發(fā)射出的X射線(xiàn)包括連續X射線(xiàn)光譜和特征X射線(xiàn)光譜，連續X射線(xiàn)光譜主要用于判斷晶體的對稱(chēng)性和進(jìn)行晶體定向的勞埃法，特征X射線(xiàn)用于進(jìn)行晶體結構研究的旋轉單體法和進(jìn)行物相鑒定的粉末法。

　　高溫環(huán)境XRD使用：

　?。?）當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。

　?。?）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

　?。?）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數，為新材料開(kāi)發(fā)應用提供性能驗證指標。

　?。?）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀(guān)應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀(guān)應力。

　?。?）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì )給出錯誤的數據。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法(謝樂(lè )法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

　　高溫環(huán)境XRD通過(guò)對材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。是研究物質(zhì)的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現象,物質(zhì)組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生衍射圖譜。